這次要為您介紹綜合使用了靜電容方式和渦電流方式的非接觸式測厚儀"UMA-500-C"。

以前條件受限難以做到的膜厚測量，現在通過簡單的定位就能輕鬆做到！

只要把探針接近被測物，就可以實現微米級的測量。

首先請看演示視頻

以往的膜厚測量是:

• 渦電流方式：需要接觸膜的表面
• 靜電容方式：可以非接觸式測量，但是需要固定底層的金屬和探針的間隙

無論哪種方式，都無法使用像傳送帶和搬運機器人那樣的"簡單定位"狀態。

相反,非接觸式測厚儀"UMA-500-C"是採用了兩者綜合的方式！

只要簡單地把探針靠近膜表面，不需要接觸就可精確測量膜厚。

很適合這樣的工件

• 樹脂薄膜
• 電容和電池的絕緣膜
• 不可接觸的塗裝膜

通過簡單的定位就可精確測量厚度。

很適合在頻繁運動的動態環境下的膜厚測量！

產品參數